对头，所以在使用点测的时候，多半都是要使用曝光锁的

测光分区加权值是图像处理芯片里面的一组参数而已，编程人员可以人为设定，也可以通过评价测光算法计算出来，可以任意修改，如果改成：对焦区域权重100%、其余区域0，就是点测联动，也可以任意修改，只不过导致一个错误的曝光值而已。你学学DSP编程、汇编语言或者计算机基本理论就知道了。

如果连“芯片同时储存对焦点信息和对应的测光区”都做不到，还怎么评价联动测光？只要是评价联动测光，就一定是“芯片同时储存对焦点信息和对应的测光区”。

至于系统记录整体评价结果是很简单的，但是要计算出这个评价结果是很复杂的，涉及大量极其复杂的运算，这个运算复杂度比起“记录每个对焦点和对应的测光区信息处理量”要高得多，相差好几个数量级。

为了便于大家讨论，这里有一个35区测光示意图：

注意到佳能500DD的测光参数：

点测光（取景器中央约4%的面积），使用一个测光传感器，1/35=2.86%,与此4%的面积基本吻合。

局部测光（取景器中央约9%的面积），联系上图，局部测光圆至少包含了5个测光传感器，5/35=14.3%.
按照9%反算后应该使用了3个测光传感器，这就有点纳闷了！
如果使用了3个测光传感器，那么具体是哪三个呢？这样的排列，局部测光的准确性又是多少呢？

支持楼主的结论

事实上，单电的测光系统可以做的比单反好得多，并且还省却了测光器件，直接用主传感器的数据进行分析，只要CMOS图像芯片输出帧速快（这个目前不是问题，很多CMOS芯片帧速都达到60帧/秒以上），图像处理芯片运算处理能力足够强大，测光分区的大小、形状都可以软件设定，再配合智能测光算法，随便什么联动、非联动都可实现。

单电也是有机械快门的，你说的那个单反可以用LV模式实现

如果加权为1和0，是不是就跟点测联动没区别了？区别就是区域的大小。

另外，D7000说的是2000多个“点”，还是“区域”？7D说的是63“区”。点和区有区别吗？

图像处理芯片既要处理图像，处理测光，也要处理对焦，需要强大的处理器。

点测光是不是就是简单的一个测光区加权为1其余为0，这个我还真不知道，不过实际上你长时间的使用就会发现评价测光联动其实是个非常实用的功能，完全可以不用纠结点测光联动的问题了。

D7000那2000多个和7D63个比，显然每个区域更小，自然可以理解成点。即便是7D的63区测光，也并不是满满铺在整个平面上的，区和区之间也是有比较大的间隔。
至于测光方式有什么不同，可以参考下面这个链接
http://wenku.baidu.com/view/c23fcca7...ff121842c.html